Visuelle Zusammenarbeit an elektronischen Informationen

Der zunehmende Einsatz von elektronischen Komponenten in Alltagsprodukten stellt für viele Unternehmen eine große Herausforderung dar: Wie können sie unzähligen Personen innerhalb und außerhalb des Unternehmens die Anzeige und Abfrage von elektronischen Konstruktionsinformationen ermöglichen?

Visuelle Zusammenarbeit an elektronischen Informationen

Der zunehmende Einsatz von elektronischen Komponenten in Alltagsprodukten stellt für viele Unternehmen eine große Herausforderung dar: Wie können sie unzähligen Personen innerhalb und außerhalb des Unternehmens die Anzeige und Abfrage von elektronischen Konstruktionsinformationen ermöglichen?

Creo View ECAD und Creo View MCAD

Da Creo View ECAD und Creo View MCAD auf demselben Framework basieren, stehen Anwendern der beiden Apps einzigartige Funktionen wie Queruntersuchungen zwischen ECAD- und MCAD-Abstraktionen zur Verfügung. Das kompakte und doch präzise Visualisierungsformat gestattet den raschen Zugriff auf komplexe Informationen, wodurch Nacharbeiten vermindert und Entscheidungsfindungen gefördert werden. Jeder in technischer Entwicklung, Konstruktion, Fabrikation, Test und Montage kann einen Beitrag leisten, sei es in Echtzeit oder mithilfe von Markierungen.

PTC Creo View ECAD

Creo View ECAD: Funktionen und Vorteile

  • Durchsuchen von CAE-Datenbanken mit Schemadiagrammen oder CAD-Datenbanken mit physischen Leiterplatten ohne ECAD-Konstruktionstools zum Abrufen von Bibliotheks-, Schemadiagramm-, Leiterplatten- und Stücklistendaten
  • Visualisierung des kompletten elektronischen Produkts, einschließlich des zugehörigen 3D-Modells
  • Abfragen intelligenter Konstruktionsdaten einschließlich Komponenten-, Stift- und Netzattributen
  • Verfolgen der Netzkonnektivität vom Schema zur Leiterplatte mit der Stiftfunktion zur Identifizierung des Ausgangspunkts schwacher Signale
  • Weiterleiten von Änderungen, Kommentaren oder Redline-Daten in mehreren Sprachen an den EDA-Anwender
  • Verkürzung der Konstruktionszykluszeit um bis zu 35 %, signifikanter Produktivitätsgewinn bei Leiterplattentests

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